芯片級可靠性分析中的失效物理研究:芯片作為現(xiàn)代電子設備的 ,其可靠性分析意義重大。上海擎奧檢測技術(shù)有限公司在芯片級可靠性分析中深入開展失效物理研究。從芯片制造工藝角度出發(fā),研究光刻、蝕刻、摻雜等工藝過程中引入的缺陷,如光刻造成的線寬偏差、蝕刻導致的側(cè)壁粗糙以及摻雜不均勻等,如何在芯片使用過程中引發(fā)失效。通過聚焦離子束(FIB)、透射電子顯微鏡(TEM)等先進設備,對失效芯片進行微觀結(jié)構(gòu)分析,觀察芯片內(nèi)部的金屬互連層是否出現(xiàn)電遷移現(xiàn)象、介質(zhì)層是否存在擊穿漏電等問題。基于失效物理研究成果,為芯片制造商提供工藝改進方向,從根源上提升芯片的可靠性??煽啃苑治鰹榫G色產(chǎn)品設計提供可持續(xù)性依據(jù)。寶山區(qū)制造可靠性分析執(zhí)行標準
微機電系統(tǒng)(MEMS)可靠性分析:隨著微機電系統(tǒng)在傳感器、執(zhí)行器等領域的廣泛應用,其可靠性分析成為研究熱點。上海擎奧檢測技術(shù)有限公司在 MEMS 可靠性分析方面具有專業(yè)技術(shù)能力。針對 MEMS 器件的微小尺寸與復雜結(jié)構(gòu)特點,采用原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)等微觀檢測設備,觀察 MEMS 器件的表面形貌、結(jié)構(gòu)完整性以及微納尺度下的缺陷情況。開展 MEMS 器件的力學性能測試、熱性能測試以及長期穩(wěn)定性測試,研究 MEMS 器件在不同環(huán)境應力與工作條件下的性能退化機制。通過 MEMS 可靠性分析,為 MEMS 器件的設計優(yōu)化、制造工藝改進提供依據(jù),提高 MEMS 器件的可靠性與穩(wěn)定性,推動 MEMS 技術(shù)的廣泛應用。徐匯區(qū)智能可靠性分析案例對注塑件進行壓力測試,檢測開裂情況,分析產(chǎn)品結(jié)構(gòu)可靠性。
科學的樣品處理提升分析準確性:合理的樣品處理對于可靠性分析結(jié)果的準確性至關重要。公司會根據(jù)樣品的性質(zhì)和檢測要求進行適當前處理。在分析金屬材料的內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)與可靠性關系時,對于塊狀金屬樣品,首先會進行切割、鑲嵌,將其制成適合金相顯微鏡觀察的薄片。然后通過打磨、拋光等工序,使樣品表面達到光學鏡面效果,以便在金相顯微鏡下清晰觀察金屬的晶粒大小、形態(tài)、分布以及內(nèi)部的相結(jié)構(gòu)等。對于一些需要分析微量元素的材料,還會采用化學溶解、萃取等方法進行樣品處理,將目標元素分離富集,再利用 ICP 電感耦合等離子光譜儀等設備進行精確測定,有效排除干擾因素,提高分析的靈敏度和準確性,為準確評估材料可靠性提供保障。
電子封裝可靠性分析:電子封裝對電子器件的可靠性有著關鍵影響。擎奧檢測在電子封裝可靠性分析方面獨具優(yōu)勢。對于球柵陣列(BGA)封裝的芯片,采用 X 射線檢測技術(shù),觀察封裝內(nèi)部焊點的形態(tài)、是否存在空洞、裂紋等缺陷。利用熱循環(huán)試驗,模擬芯片在實際使用過程中因溫度變化產(chǎn)生的熱應力,通過監(jiān)測焊點的電阻變化以及芯片與封裝基板之間的連接完整性,評估焊點在熱循環(huán)應力下的可靠性。同時,分析封裝材料與芯片、基板之間的熱膨脹系數(shù)匹配情況,研究因熱膨脹差異導致的界面應力對封裝可靠性的影響,為優(yōu)化電子封裝設計、提高電子器件整體可靠性提供專業(yè)建議。測試涂料在鹽霧環(huán)境下的防腐效果,分析涂層防護可靠性。
可靠性分析中的加速試驗設計:為在較短時間內(nèi)獲取產(chǎn)品可靠性信息,上海擎奧檢測擅長設計高效的加速試驗方案。以電子產(chǎn)品的溫度加速試驗為例,依據(jù)阿倫尼斯方程,確定合適的加速溫度應力水平。通過提高試驗溫度,加快產(chǎn)品內(nèi)部的物理化學過程,如電子元件的老化、材料的性能退化等,從而在較短時間內(nèi)激發(fā)產(chǎn)品的潛在失效模式。在設計加速試驗時,充分考慮產(chǎn)品的實際使用環(huán)境與應力條件,確保加速試驗結(jié)果能夠準確外推到產(chǎn)品的正常使用情況。同時,運用統(tǒng)計方法對加速試驗數(shù)據(jù)進行分析處理,評估產(chǎn)品在正常使用條件下的可靠性指標,為產(chǎn)品的快速研發(fā)與質(zhì)量提升節(jié)省時間和成本??煽啃苑治隹蓛?yōu)化生產(chǎn)工藝,提升產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性。寶山區(qū)制造可靠性分析執(zhí)行標準
統(tǒng)計電動工具續(xù)航時間與故障次數(shù),評估工具使用可靠性。寶山區(qū)制造可靠性分析執(zhí)行標準
多樣化檢測方法滿足不同需求:公司擁有豐富多樣的檢測方法,能根據(jù)樣品性質(zhì)和檢測要求靈活選擇。在分析電路板的可靠性時,對于電路板表面的焊接質(zhì)量檢測,可采用三維體視顯微鏡進行宏觀觀察,快速發(fā)現(xiàn)虛焊、焊錫不足等明顯缺陷;對于電路板內(nèi)部的線路連通性和潛在缺陷,可利用 X 光 設備進行無損檢測,清晰呈現(xiàn)內(nèi)部線路結(jié)構(gòu)。在評估材料的化學性能對可靠性的影響時,針對有機材料可選用紅外光譜儀,通過分析材料的紅外吸收光譜特征,確定其化學官能團,進而推斷材料的種類和結(jié)構(gòu),判斷材料是否因老化、化學反應等導致性能變化影響可靠性;對于金屬材料的力學性能檢測,拉伸試驗機可精確測定材料的屈服強度、抗拉強度等關鍵力學指標,為分析材料在實際使用中的可靠性提供重要數(shù)據(jù)支持。寶山區(qū)制造可靠性分析執(zhí)行標準