激光干涉儀,以激光波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統(tǒng)測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以邁克爾遜干涉儀為主,并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源,構(gòu)成一個具有干涉作用的測量系統(tǒng)。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作,并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱:laser interferometer(激光干涉儀)它通過將光束分成兩部分,分別經(jīng)過不同的路徑后再合并,形成干涉圖樣。常熟本地雙頻激光干涉儀單價
激光干涉儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,包括但不限于:科學(xué)研究:用于檢測引力波、測量微小位移和振動等。工業(yè)制造:用于精密機械加工、質(zhì)量控制和機床校準(zhǔn)等。在機床校準(zhǔn)中,激光干涉儀能夠測量機床的線性定位誤差、直線度誤差、偏擺角、俯仰角和滾動角等,以及速度、加速度、振動等參數(shù),并評估機床的動態(tài)特性。計量學(xué):用于長度標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)。通信:用于光纖傳感和信號處理。四、主要特點高精度:激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級的測量精度,非常適合各種高精度測量應(yīng)用。張家港耐用雙頻激光干涉儀維保光程傳播:參考光束和測量光束分別經(jīng)過不同的路徑,可能會經(jīng)過被測物體或介質(zhì)。
(1)接受信號為交流信號,前置放大器為高倍數(shù)的交流放大器,不用直流放大,故沒有零點漂移等問題。(2)利用多普勒效應(yīng),計數(shù)器計頻率差的變化,不受激光強度和磁場變化的影響。在光強度衰減90%時仍可得到滿意的信號,這對于遠距離測量是十分重要的,同時在近距離測量時又能簡化調(diào)整工作。(3)測量精度不受空氣湍流的影響,無需預(yù)熱時間。用激光干涉儀作為機床的測量系統(tǒng)可以提高機床的精度和效率。起初*用于高精度的磨床、鏜床和坐標(biāo)測量機上,以后又用于加工中心的定位系統(tǒng)中。
雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的一種外差式干涉儀,以下是對其的詳細介紹:一、基本原理雙頻激光干涉儀利用兩束頻率相近的激光,通過分束后分別作為參考光和測量光。測量光經(jīng)移動目標(biāo)反射后與參考光疊加產(chǎn)生多普勒頻移差頻信號,通過檢測差頻的變化來計算位移量。具體來說:雙頻生成:激光器產(chǎn)生兩束頻率相近的激光(如利用塞曼效應(yīng)或聲光調(diào)制),頻率分別為f1和f2。分束干涉:光束經(jīng)分光鏡分為兩路,一路為參考光(頻率穩(wěn)定),另一路為測量光(頻率經(jīng)被測物**移產(chǎn)生多普勒頻移Δf)。光束分割:通過分束器將激光束分成兩部分,通常稱為參考光束和測量光束。
5、導(dǎo)軌、絲桿、螺母與軸孔部分等傳動部件,應(yīng)當(dāng)保持良好的潤滑。因此必要時要使用精密儀表油潤滑。6、在使用時應(yīng)避免強旋、硬扳等情況,合理恰當(dāng)?shù)恼{(diào)整部件。7、避免劃傷或腐蝕導(dǎo)軌面絲桿,保持其不失油。1、儀器應(yīng)妥善地放在干燥、清潔的房間內(nèi),防止振動,儀器搬動 時,應(yīng)托住底座,以防導(dǎo)軌變形。 2、光學(xué)零件不用時,應(yīng)存放在清潔的干燥盆內(nèi),以防止發(fā)霉。反光鏡、分光鏡一般不允許擦拭,必要擦拭時,須先用備件毛刷小心撣去灰塵,再用脫脂清潔棉花球滴上酒精和**混合液輕拭。3、傳動部件應(yīng)有良好的潤滑。特別是導(dǎo)軌、絲桿、螺母與軸孔部分,應(yīng)用T5精密儀表油潤滑。雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進行干涉測量的儀器。吳中區(qū)定制雙頻激光干涉儀哪家強
抗干擾能力強:由于使用了兩種不同頻率的激光,干涉儀對環(huán)境噪聲和振動的抗干擾能力較強。常熟本地雙頻激光干涉儀單價
檢驗光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡,平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡,可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變,從而評估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962) [5]。 1969年美國科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(tǒng)(Weiss 1972) [6]常熟本地雙頻激光干涉儀單價
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