AOI的包含情況以及三種檢測方法一、AOI系統(tǒng)一般包含：1.照明系統(tǒng)2.光學(xué)透鏡 CCD攝像系統(tǒng)4.檢測工作臺5.檢測程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二、三種檢測算法1.DRC檢測基本思想：DRC使用一套用戶設(shè)計(jì)的規(guī)則來檢測違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù)，所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷。規(guī)則包括：允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導(dǎo)體間距、所有線寬都必須以焊盤結(jié)束等。檢測缺陷：毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。2.特征比較基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征，然后比較結(jié)果，不同之處就是缺陷。檢測缺陷：開路，短路3.粗檢測缺陷基本思想：將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算，得到圖像之間的不同。檢測缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤）AOI 檢測設(shè)備的統(tǒng)計(jì)分析功能，自動(dòng)生成不良率趨勢圖，為工藝改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支撐。汕頭全自動(dòng)AOI檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)

AOI測試的主要功能:1.高效率檢測，不受PCB安裝密度影響。2.面對不同的檢測項(xiàng)目，能夠結(jié)合光學(xué)成像處理技術(shù)，有針對的檢測方法。3.操作界面簡潔人性化，輕松易上手。4.能夠顯示實(shí)際的不良圖像，方便操作人員進(jìn)行**終的視覺驗(yàn)證。5.統(tǒng)計(jì)NG數(shù)據(jù)的同時(shí)分析不良原因，實(shí)時(shí)反饋給機(jī)床技術(shù)信息。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測是實(shí)現(xiàn)工業(yè)自動(dòng)化的一種有效檢測方法，并逐漸取代傳統(tǒng)的人工目檢，被普遍應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管和PCB等工業(yè)過程中。它能夠有效地檢測安裝質(zhì)量、焊點(diǎn)質(zhì)量等。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配過程的后段檢測缺陷并避免將缺陷發(fā)送到**終裝配步驟，降低維修成本，避免報(bào)廢不固定電路板，能夠降低生產(chǎn)企業(yè)的成本的同時(shí)又能保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定，提高產(chǎn)品的競爭力。光學(xué)檢測設(shè)備AOI 檢測設(shè)備如何實(shí)現(xiàn)智能化檢測？搭載 AI 算法，自動(dòng)分析缺陷類型，給出處理建議。

AOI檢測發(fā)展歷程：1985年至1995年期間，我國的AOI由空白期逐漸衍生：我國引進(jìn)首臺貼片機(jī)后，AOI檢測進(jìn)入起步階段；1996年至2003年期間，以康耐德視覺為首的企業(yè)開啟AOI檢測設(shè)備的國內(nèi)生產(chǎn)制造的之路；2004年至2010年期間，我國進(jìn)入了AOI的快速發(fā)展期：AOI新技術(shù)不斷發(fā)展，國內(nèi)品牌開始與國外品牌進(jìn)行戰(zhàn)略性合作，不斷研制更先進(jìn)的設(shè)備。2011年后，我國AOI進(jìn)入人工智能化階段：伴隨著大數(shù)據(jù)、人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)等新技術(shù)的不斷應(yīng)用，AOI檢測不斷朝著智能化系統(tǒng)方向進(jìn)步。

AOI為什么會逐漸取代人工目檢？現(xiàn)在的人工越來越貴，并且人員管理也越來越難，人工目檢還會出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)檢，因此在線AOI逐漸取代人工目檢，達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等，在現(xiàn)代的EMS加工廠中，大量的AOI逐漸取代人工目檢，效率也更快。AOI檢測設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問題，保證生產(chǎn)質(zhì)量；2、提高了后端測試的直通率，降低維修成本；3、隨著技術(shù)的發(fā)展，AOI測試程序快捷簡便，降低了生產(chǎn)所需的大量測試成本；AOI檢測設(shè)備的缺點(diǎn)1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現(xiàn)誤判，2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn)，比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+AOI自動(dòng)檢測結(jié)合是目前的主流方式，如果放置了AOI自動(dòng)檢測儀，人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員隨著電子精密化趨勢發(fā)展，越來越多的使用了屏蔽罩，因此有實(shí)力的加工廠還會在多功能機(jī)前加一個(gè)爐前AOI，用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。AOI 檢測設(shè)備通過邊緣檢測算法，勾勒元件輪廓，判斷其是否超出允許的公差范圍。

PCB缺陷可大致分為短路（包括基銅短路、細(xì)線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復(fù)性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過厚短路、刮擦短路、褶皺短路等），開路（包括重復(fù)性開路、刮擦開路、真空開路、缺口開路等）和其他一些可能導(dǎo)致PCB報(bào)廢的缺陷（包括蝕刻過度、電鍍燒焦、***),在PCB生產(chǎn)流程中，基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷，但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生，AOI一般在蝕刻工序之后進(jìn)行檢測，主要用來發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測中，圖像對比算法應(yīng)用較多，且以2D檢測為主，其主要包括數(shù)據(jù)處理類（對輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理，過濾小的***和殘留銅及不需檢測的孔等），測量類（對輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取，記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對比）和拓?fù)漕悾ㄓ糜跈z測增加或丟失的特征），圖1為特征提取法示意圖，（a）為標(biāo)準(zhǔn)版和被檢板二值圖，（b）為數(shù)學(xué)形態(tài)分析后的特征圖。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷，存在少量的漏檢問題，不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題。PCB加工過程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報(bào)警，因此目前在使用AOI檢測出缺陷后，必須進(jìn)行人工驗(yàn)證。AOI 檢測設(shè)備在半導(dǎo)體制造中發(fā)揮什么作用？嚴(yán)格把控芯片質(zhì)量，保障產(chǎn)品性能。韶關(guān)銷售AOI檢測設(shè)備市場價(jià)

AOI 檢測設(shè)備的更新?lián)Q代速度快嗎？緊跟技術(shù)發(fā)展，及時(shí)升級設(shè)備很重要。汕頭全自動(dòng)AOI檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)

AOI設(shè)備的原理1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質(zhì)，因此照射在焊錫表面的光，遵循入射角=反映射角方向進(jìn)行反射。2.光源設(shè)計(jì)通過“紅色、綠色、藍(lán)色”不同角度的光源照射，反映被造物體的曲面的變化情況。從而達(dá)到檢測元件焊接弧度的目的。3.不同的曲面弧度上，顏色反映了弧度的變化特性?！凹t光”“綠光”“藍(lán)光”的亮度強(qiáng)弱比例，是保證這一檢測原理的關(guān)鍵。①紅色：上錫角度相對較低時(shí)，紅光反射回像機(jī)。（1°-25°）②綠色：上錫角度相對高一些時(shí)綠光反射回像機(jī)。（25°-45°）③藍(lán)色：上錫角度較高時(shí)，藍(lán)光反射回像機(jī)。（45°以上）汕頭全自動(dòng)AOI檢測設(shè)備技術(shù)參數(shù)