可靠性測(cè)試是什么 為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)。對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法?？煽啃詼y(cè)試：也稱產(chǎn)品的可靠性評(píng)估，產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證，這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分?？煽啃栽囼?yàn)包括：老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境可靠性試驗(yàn) 材料可靠性測(cè)試的**價(jià)值是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在缺點(diǎn)、在生產(chǎn)階段驗(yàn)證產(chǎn)品質(zhì)量、減少客戶退貨的可能性、提高產(chǎn)品質(zhì)量、提升品牌價(jià)值，同時(shí)維護(hù)品牌聲譽(yù)。可靠性環(huán)境的測(cè)試人員一定要嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行測(cè)試。上海芯片可靠性測(cè)試公司

先來看看MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，它指的是：環(huán)境工程考察和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。它是一項(xiàng)美國(guó)jun用標(biāo)準(zhǔn)，強(qiáng)調(diào)通過環(huán)境測(cè)試手段，發(fā)現(xiàn)問題，反復(fù)修改設(shè)備的初始設(shè)計(jì)完善產(chǎn)品。簡(jiǎn)單的說，就是筆記本從*初設(shè)計(jì)到用料選材再到制造的整個(gè)環(huán)節(jié)都必須嚴(yán)格符合軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，只有這樣*終才能夠順利通過MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

下面是MIL-STD-810G的幾個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目：

跌落測(cè)試：顧名思義就是把產(chǎn)品托舉到一定高度，然后使其自由落體，之后再檢查它是否完好。該測(cè)試模擬我們?nèi)粘９ぷ髦胁簧鲗⒐P記本跌落的狀況。

加速度沖擊性測(cè)試：筆記本在工作臺(tái)上被物體以加速形態(tài)沖撞，然后落地，基本就是模擬受到突發(fā)性沖撞。

耐久度測(cè)試：主要考察筆記本頻繁使用過程中的可靠性，尤其考驗(yàn)轉(zhuǎn)軸、排線等配件，該項(xiàng)測(cè)試一般都會(huì)經(jīng)歷幾十萬次開合。 上海芯片可靠性測(cè)試公司對(duì)產(chǎn)品而言，可靠性測(cè)試結(jié)果越高就越好。

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來加以說明。 首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡(jiǎn)單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長(zhǎng)。其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。

可靠性檢測(cè)測(cè)試項(xiàng)目主要包括： 1.氣候環(huán)境試驗(yàn)：高低溫試驗(yàn)、高低溫交變、快速溫度變化、低氣壓、IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)； 2.鹽霧試驗(yàn)：中性鹽霧、酸性鹽霧、銅加速鹽霧、循環(huán)鹽霧。 3.機(jī)械類試驗(yàn)：振動(dòng)試驗(yàn)（隨機(jī)振動(dòng)、掃頻振動(dòng)）、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)。 4.力學(xué)性能試驗(yàn)：拉伸性能、彎曲性能、壓縮性能、擺錘沖擊。 5.熱性能試驗(yàn)：熱變形溫度、維卡軟化點(diǎn)，熔融。 6.電學(xué)性能：介電強(qiáng)度、絕緣電阻、接觸電阻、接地電阻、電壓降。 7.材料類試驗(yàn)：氙燈老化試驗(yàn)、熒光紫外燈老化試驗(yàn)、材料邵氏硬度、鉛筆硬度、耐化學(xué)介質(zhì)、色差、光澤度、膠帶初粘力、膠帶持粘力。 可靠性試驗(yàn)設(shè)備： 恒溫恒濕測(cè)試箱 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 跌落試驗(yàn)設(shè)備 老化測(cè)試設(shè)備 低溫試驗(yàn)設(shè)備 機(jī)械沖擊設(shè)備可靠性試驗(yàn)有哪些項(xiàng)目?

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性試驗(yàn)測(cè)試目的主要有以下幾個(gè)方面的考慮： 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺點(diǎn)，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況； 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息； 對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收； 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理； 為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。 以藍(lán)牙音箱一些可靠性測(cè)試來舉例： 高低溫測(cè)試：檢驗(yàn)音箱能在一定溫度范圍內(nèi)正常工作； 百格測(cè)試：檢驗(yàn)外殼表面涂膜涂層附著力是否滿足使用要求； 防水防塵測(cè)試：滿足在戶外情況下音箱具有一定抗水抗塵能力。在對(duì)化工產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測(cè)試時(shí)，需要實(shí)施對(duì)應(yīng)的質(zhì)量管理措施。手表可靠性測(cè)試公司

安全性測(cè)試與可靠性測(cè)試有什么區(qū)別？上海芯片可靠性測(cè)試公司

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 1、低溫試驗(yàn)： 低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T 2423.1-2008，只做：溫度≥-70℃。 2、高溫試驗(yàn)： 高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 只做：溫度≤300℃。 3、恒定濕熱試驗(yàn)： 濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001 只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。 4、交變濕熱試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。上海芯片可靠性測(cè)試公司

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