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上海多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)機構(gòu)

來源: 發(fā)布時間:2025-07-20

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中硅光芯片與激光器的封裝結(jié)構(gòu),封裝結(jié)構(gòu)包括基座,基座設(shè)置與硅光芯片連接的基座貼合面,與激光器芯片和一體化反射鏡透鏡連接的基座上表面;基座設(shè)置通孔,通孔頂部開口與一體化反射鏡透鏡的出光面連接,通孔底部開口與硅光芯片的光柵耦合器表面連接;激光器芯片靠近一體化反射鏡透鏡的入光面的一端設(shè)置高斯光束出口;激光器芯片的高斯光束方向水平射入一體化反射鏡透鏡的入光面,經(jīng)一體化反射鏡透鏡的反射面折射到一體化反射鏡透鏡的出光面,穿過通孔聚焦到光柵耦合器表面;基座貼合面與基座上表面延伸面的夾角為a1。通過對基座的底部進行加工形成斜角,角度的設(shè)計滿足耦合光柵的較佳入射角。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:整合性高。上海多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)機構(gòu)

上海多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)機構(gòu),硅光芯片耦合測試系統(tǒng)

在光芯片領(lǐng)域,芯片耦合封裝問題是光子芯片實用化過程中的關(guān)鍵問題,芯片性能的測試也是至關(guān)重要的一步驟,現(xiàn)有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調(diào)架轉(zhuǎn)軸進行調(diào)光,并依靠對輸出光的光功率進行監(jiān)控,再反饋到微調(diào)架端進行調(diào)試。芯片測試則是將測試設(shè)備按照一定的方式串聯(lián)連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設(shè)備通過光纖,設(shè)備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發(fā)射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發(fā)端光功率。將光芯片的發(fā)射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。河北自動硅光芯片耦合測試系統(tǒng)價格硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路。

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根據(jù)產(chǎn)業(yè)鏈劃分,芯片從設(shè)計到出廠的中心環(huán)節(jié)主要包括6個部分:(1)設(shè)計軟件,芯片設(shè)計軟件是芯片公司設(shè)計芯片結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵工具,目前芯片的結(jié)構(gòu)設(shè)計主要依靠EDA(電子設(shè)計自動化)軟件來完成;(2)指令集體系,從技術(shù)來看,CPU只是高度聚集了上百萬個小開關(guān),沒有高效的指令集體系,芯片沒法運行操作系統(tǒng)和軟件;(3)芯片設(shè)計,主要連接電子產(chǎn)品、服務(wù)的接口;(4)制造設(shè)備,即生產(chǎn)芯片的設(shè)備;(5)圓晶代工,圓晶代工廠是芯片從圖紙到產(chǎn)品的生產(chǎn)車間,它們決定了芯片采用的納米工藝等性能指標(biāo);(6)封裝測試,是芯片進入銷售前的結(jié)尾一個環(huán)節(jié),主要目的是保證產(chǎn)品的品質(zhì),對技術(shù)需求相對較低。應(yīng)用到芯片的領(lǐng)域比如我們的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中應(yīng)用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調(diào)制器、探測器、無源波導(dǎo)器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面,光芯片的成本非常高,但隨著大規(guī)模生產(chǎn)的實現(xiàn),硅光芯片的低成本成了巨大優(yōu)勢;硅光芯片的傳輸性能好,因為硅光材料折射率差更大,可以實現(xiàn)高密度的波導(dǎo)和同等面積下更高的傳輸帶寬。當(dāng)三維的粗耦合結(jié)束后,在計算機地控制下,將光纖陣列和波導(dǎo)端面的距離調(diào)整到預(yù)先設(shè)定的距離,進行微耦合。

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在光芯片領(lǐng)域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關(guān)鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現(xiàn)有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調(diào)架轉(zhuǎn)軸進行調(diào)光,并依靠對輸出光的光功率進行監(jiān)控,再反饋到微調(diào)架端進行調(diào)試。芯片測試則是將測試設(shè)備按照一定的方式串聯(lián)連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設(shè)備通過光纖,設(shè)備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發(fā)射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發(fā)端光功率。將光芯片的發(fā)射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:處理的應(yīng)用領(lǐng)域廣。安徽射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)多少錢

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是一種用于測試硅光芯片耦合效率和性能的設(shè)備。上海多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)機構(gòu)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的面向硅光芯片的光模塊封裝結(jié)構(gòu)及方法,封裝結(jié)構(gòu)包括硅光芯片,電路板和光纖陣列,硅光芯片放置在基板上,基板和電路板通過連接件相連,并且在連接件的作用下實現(xiàn)硅光芯片與電路板的電氣連通;光纖陣列的端面與硅光芯片的光端面耦合形成輸入輸出光路;基板所在平面與電路板所在平面之間存在一個夾角,使得光纖陣列的尾纖出纖方向與光模塊的輸入和/或輸出通道的光軸的夾角為銳角。本發(fā)明避免光纖陣列尾纖彎曲半徑過小的問題,提高了封裝的可靠性。上海多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)機構(gòu)